电荷放大器论文

深亚微米沟槽栅 PMOSFET 中受主型界面态引起的退化

一、受主型界面态在深亚微米槽栅PMOSFET中引起退化的研究（论文文献综述）于鹏远[1]（2020）在《MOS结构总剂量辐射效应建模方法研究》文中研究说明MOS结构电子器件作为...